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金融界2025年5月20日消息,国家知识产权局信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司申请一项名为“背面金属层的刻蚀方法”的专利,公开号CN120015624A,申请日期为2025年02月。
专利摘要显示,本申请公开了一种背面金属层的刻蚀方法,包括:提供一衬底,该衬底具有正面和背面,从俯视角度观察,该衬底包括第一区域和第二区域,第一区域的正面用于形成存储单元器件,第二区域的正面用于形成逻辑器件,第二区域的背面形成有沟槽,衬底的背面从下而上依次形成有介质层和金属层,沟槽内的金属层的厚度大于沟槽外的金属层的厚度;对目标区域进行第一次刻蚀,直至目标区域的介质层被去除;对目标区域进行第二次刻蚀,直至目标区域的金属层被去除,在进行第二次刻蚀的过程中,供给的偏置功率呈脉冲方波。
天眼查资料显示,华虹半导体(无锡)有限公司,成立于2017年,位于无锡市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本253685.180069万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体(无锡)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目2912次,专利信息1654条,此外企业还拥有行政许可117个。
本文源自:金融界
作者:情报员/阅读下一篇/返回网易首页下载网易新闻客户端
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快照生成时间:2025-05-20 20:45:06
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